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穿透涂層型超聲波測厚儀宇時(shí)UM-1D
詳細(xì)信息品牌:宇時(shí) 加工定制:否 型號:UM-1D 類型:超聲波 測量范圍:0.8㎜~300 mm 電源電壓:兩節(jié)1.5V AA電池 V 外形尺寸:149㎜×73㎜×32 mm 測量范圍:0.8㎜~300 mm 電源電壓:兩節(jié)1.5V AA電池 V
宇時(shí)UM-1D超聲波測厚儀是一款具有穿透涂層功能的小型便攜式超聲波測厚儀,它能快速、無損傷、精確地進(jìn)行測量。 穿透涂層型超聲波測厚儀宇時(shí)UM-1D原理:
宇時(shí)UM-1D超聲波測厚儀超聲波測厚儀對厚度的測量是由探頭將超聲波脈沖透過耦合劑發(fā)射到被測物體,超聲波脈沖到達(dá)被測物體并在物體中傳播,到達(dá)材料分界面時(shí)被反射回探頭,通過精確測量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測材料的厚度。穿透涂層型超聲波測厚儀宇時(shí)UM-1D概述:
宇時(shí)UM-1D超聲波測厚儀具有標(biāo)準(zhǔn)和涂層兩種工作模式。涂層模式采用回波-回波法,當(dāng)材料表面有涂層時(shí),無需把涂層打磨掉,能直接測出基材凈厚度,而且不需要對儀器進(jìn)行校準(zhǔn),可直接測量,缺點(diǎn)是測量范圍受到一定限制,當(dāng)使用標(biāo)準(zhǔn)探頭時(shí),測量范圍是 3mm~18mm。標(biāo)準(zhǔn)模式采用脈沖-回波法,當(dāng)材料表面覆有涂層時(shí)會帶來測量誤差,因此須把涂層打磨干凈后再測量,標(biāo)準(zhǔn)模式的優(yōu)點(diǎn)是測量范圍寬,當(dāng)使用標(biāo)準(zhǔn)探頭時(shí),測量范圍是0.8mm~300mm。
穿透涂層型超聲波測厚儀宇時(shí)UM-1D適用范圍:
宇時(shí)UM-1D超聲波測厚儀可以測量金屬材質(zhì)、高溫管道、管材、板材(鋼板、鋁板)、塑料、鐵管、PVC管、玻璃等材料的厚度。本儀器可廣泛應(yīng)用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢業(yè)等檢測領(lǐng)域,適用于能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播,并能從其背面得到反射的各種材料厚度的測量。除可對各種板材和各種加工零件作精確測量外,還可以對生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測,監(jiān)測它們在使用過程中受腐蝕后的減薄程度,是材料保護(hù)必備的專用儀器。
穿透涂層型超聲波測厚儀宇時(shí)UM-1D的主要性能指標(biāo):顯示屏 128×64點(diǎn)陣液晶屏顯示(EL背光) 工作原理 使用雙晶探頭脈沖-回波法 測量范圍 0.8㎜~300㎜(取決于所配探頭,標(biāo)配測量范圍:1-100mm) 分辨率 0.1㎜或0.001in 重復(fù)性 0.1㎜ 測量誤差 ±0.1mm (10mm以下) ±(1%H+0.1) (10mm以上 ) 注:H為被測物厚度 單位 毫米或英寸 校準(zhǔn)模式 零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn) V路徑修正 V聲程修正,補(bǔ)償雙晶探頭的非線性度 測量更新率 4Hz 材料聲速范圍 1000~9999m/s 或0.0394~0.3937in/us 存儲功能 劃分5個(gè)數(shù)組,可存儲500個(gè)厚度值 *小值掃查 沿被測物表面拖動(dòng)探頭,儀器可自動(dòng)找處測量*薄厚度 報(bào)警功能 可設(shè)置厚度界限,對界限外的測量值有報(bào)警聲提示 聲速存儲 可存儲5種不同材料的聲速 工作語言 可選擇中文或英文 通訊接口 USB接口或RS232串口(選配) 應(yīng)用軟件 UmView軟件用于測量數(shù)據(jù)的傳輸、儲存、分析和編輯文檔(選配) 電源 兩節(jié)1.5V AA電池,當(dāng)電量不足時(shí),有低電壓提示 操作時(shí)間 堿性電池可使用200小時(shí)(不使用背光) 自動(dòng)關(guān)機(jī) 5分鐘無操作后自動(dòng)關(guān)機(jī) 工作溫度 -10℃~+50℃,有特殊要求可達(dá)-20℃ 尺寸 149㎜×73㎜×32㎜ 重量 210g(含電池) 標(biāo)準(zhǔn)配置 UM-1 測厚儀、標(biāo)配探頭、儀器箱、兩節(jié)堿性電池、耦合劑、操作手冊、合格證、裝箱單 可選配件 橡膠護(hù)套、不同測量標(biāo)準(zhǔn)的探頭、探頭線、階梯試塊、通訊軟件及電纜 -
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