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光學(xué)投影儀EP2010
詳細(xì)信息| 詢價留言光學(xué)投影儀EP2010
光學(xué)投影儀EP2010詳細(xì)介紹:
高精密光學(xué)投影儀EP2010
高精密光學(xué)投影儀EP2010,適用于精密工業(yè)如橫具、工具、螺絲、齒輪、鐘表、自動車床加工、光學(xué)部件、航空等等工業(yè)的制造、設(shè)計(jì)開發(fā)、品管檢驗(yàn)與學(xué)術(shù)研究用途。
高精密光學(xué)投影儀EP-1,是集光學(xué),精密機(jī)械,電子測量于一體化的精密測量儀器,用于對高精度工作或模具作尺寸、長度、形狀、輪廓之精密放大投影檢查,測量比對和測量結(jié)果的列表記錄。
高精密光學(xué)投影儀EP-1 2010的特點(diǎn)是:高精設(shè),測量示值誤差達(dá)(3+L/100)um,L為被測量長度(單位:mm);在透射光照明下,輪廓測量誤差小于0.08%.
高精密光學(xué)投影儀EP2010,隨機(jī)已經(jīng)配備ES-10P多功能數(shù)據(jù)處理電子尺系統(tǒng),并配有專用的微型打印機(jī),可將測量結(jié)果打印出來。
幾何測量功能
三點(diǎn)求圓;點(diǎn)測量;兩點(diǎn)求距離;兩點(diǎn)合成線;兩線求交角及交點(diǎn);四點(diǎn)求交角及交點(diǎn);線上垂直投點(diǎn)。
高精密光學(xué)投影儀EP2010的技術(shù)參數(shù):顯示軸數(shù)
X,Y軸為線性電子尺、A軸為角度編碼器
分辨率
0.001mm(X,Y軸)/0.01度(A軸)
座標(biāo)顯示
X ,Y坐標(biāo)/極座標(biāo)顯示
記憶功能
99組幾何測試結(jié)果記憶,10組測量座標(biāo)
誤差修正功能
線性誤差修正,非線性誤差修正
數(shù)據(jù)輸出接口
RS-232C數(shù)據(jù)輸出接口
幾何測量功能
*三點(diǎn)求圓
*點(diǎn)測量
*兩點(diǎn)求距離
*兩點(diǎn)合成線
*兩點(diǎn)求交角及交點(diǎn)
*四點(diǎn)求交角及交點(diǎn)
*線上垂直投點(diǎn)
型號
EP-1510
EP-2010
EP-2515
工
作
臺
金屬工作臺面尺寸
300×170mm
350×170mm
420×250mm
玻璃臺面尺寸
175×127mm
225×120mm
290×190mm
X坐標(biāo)行程
150mm
200mm
250mm
Y坐標(biāo)行程
100mm
100mm
150mm
Z坐標(biāo)行程
90mm
X,Y坐標(biāo)數(shù)顯分辨率
0.001mm
軸向測量精度
(3+L/100)um
投
影
屏
投影旋轉(zhuǎn)范圍
0~360度
旋轉(zhuǎn)角度數(shù)頁分辨率
0.01度
平面及表面輪廓精度
0.08%
投影屏尺寸
直徑315mm
直徑415mm
物
鏡
放大倍率(任選其一)
10×
20×
50×
10×
20×
50×
物方視場范圍(直徑)
30mm
15mm
6mm
40mm
20mm
8mm
物方工作距
75mm
35mm
15mm
81mm
71mm
65mm
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